菲希爾廠家

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Dualscope mpor渦流法

測量探頭的激勵電流產生高頻主磁場，在基底材料中產生渦流。由此產生的二次磁場削弱了一次磁場。該效應是測量探針和基材之間的距離（涂層厚度），并使用存儲在儀器中的探針特性將其轉換為涂層厚度值。

菲希爾mpor應用

•在有色金屬（如鋁或不銹鋼）上涂清漆或塑料涂層

•鋁上的陽極氧化涂層

Fischer mpor放置支架的V型槽允許對圓柱形零件進行簡單可靠的測量

fischer mpor磁感應法

dualscope mpor測量探頭中的激勵電流產生低頻磁場，該磁場由與待測量涂層厚度對應的磁性基板材料放大。

菲希爾mpor使用存儲在儀器中的探針特性，將記錄該放大的測量線圈信號轉換為涂層厚度值。

無錫駿展儀器有限責任公司提供專業的技術服務和售后服務的各種精密檢測儀器和設備,和專業的技術能力,全面的產品資源,深思熟慮的和快速的服務,可靠的設備質量為目的,在加工、*制造、新材料應用,科學研究等前沿領域有*的優勢。

磁性測厚法

適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測量精度高。

渦流測厚法

適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低。