菲希爾XULM240 X射線測厚儀信息

儀器核心特點

1. 廣泛的測量能力

• 通過高壓發生器與濾片組合，可覆蓋極?。ㄈ?0 nm金層）至較厚（如100 μm錫層）的鍍層測量需求，實現全范圍精準測量。

• 比例計數器支持高達數千cps（每秒計數率）的高計數率，顯著提升檢測效率與數據穩定性。

2. 高精度微區檢測

• 配備微聚焦X射線管，最小測量點可達100 μm，適用于接插件、微小觸點等精細結構的鍍層分析。

• 部分型號支持自動切換準直器（如0.05×0.05 mm至Φ0.3 mm）和濾片，靈活適配不同應用場景。

3. 人性化設計

• 射線方向從下至上，搭配底部C型開槽的大容量測量艙，便于快速放置大尺寸樣品（如PCB板）或異形件。

• 可選配手動XY工作臺或可編程平臺，輔助精確定位，并通過視頻窗口實時觀察測量位置。

4. 智能化與擴展性

• 搭載薄膜FP法和塊體FP法軟件，支持含鉛合金、多層鍍層（如Ni/Cu/Au）等復雜結構的分析。

• 部分機型集成半導體探測器與比例計數器，兼顧高信噪比薄層測量與高計數率厚層檢測。

典型應用領域

1. 電子與半導體行業

• 線路板鍍層：精確測量Au/Ni/Cu/PCB、Sn/Cu/PCB等多層結構，避免Br元素干擾。

• 接插件與觸點：分析微小觸點上的Au/Ni/CuSn6等鍍層，確保導電性與耐腐蝕性。

2. 汽車與工業制造

• 防腐鍍層：檢測螺栓、螺母等大批量零件的Zn/Fe、ZnNi/Fe鍍層厚度，保障防銹性能。

• 裝飾性鍍層：如Cr/Ni/Cu/ABS塑料件的表面處理質量控制。

3. 珠寶與鐘表行業

• 無損檢測貴金屬鍍層（如金、銀、鉑）的厚度與成分，滿足首飾成色鑒定需求。

4. 電鍍工藝監控

• 實時分析電鍍液中的金屬成分含量，優化鍍液配比與工藝參數。

5. 科研與新材料開發

• 支持納米級超薄鍍層（如80 nm金層）的精準測量，助力半導體、光電子等領域研發。