當儀器發射的 X 射線照射到樣品表面時，鍍層及基體材料中的原子會吸收 X 射線的能量，使內層電子被激發并躍遷到高能級。當這些電子回到低能級時，會釋放出具有特定能量的熒光 X 射線。不同元素發射的熒光 X 射線能量不同，通過檢測這些熒光 X 射線的能量和強度，結合儀器內置的校準曲線和算法，就可以精確測量出鍍層的厚度以及元素組成。
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240：常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析，適用于對十分微小零部件、接插件和線材的鍍層測量，以及印刷電路板上的手動測量、珠寶和手表業中的測量等
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