fischer x射線測厚儀菲希爾

fischer x射線測厚儀菲希爾

fischer x射線測厚儀菲希爾

菲希爾光譜儀 X射線熒光鍍層測厚儀使用性能主要技術指標：

1、菲希爾xdl230測量原理：X射線熒光光譜法測量鍍層厚度

2、菲希爾xdl230測量方式：無損檢測，可自動聚焦

3、菲希爾xdl230元素測量范圍: Cl（17）--U（92），多可測量24種元素23層鍍層。

4、菲希爾x射線測厚儀手動X/Y平臺,移動范圍≥95x150mm,可用工作臺面≥420x450mm

5、菲希爾x射線測厚儀電動Z軸，手動/自動聚焦，可移動范圍≥140mm

6、菲希爾x射線測厚儀采用DCM（測量距離補償法）可遠距離對焦測量腔體樣品，可達80mm深度

7、fischer測厚儀滿足可變高壓30KV,40KV,50KV三種可調節，以滿足不同的測試需求。

8、fischer測厚儀準直器：φ0.3的圓形準直器

9、fischer測厚儀X射線探測器：比例接收器

10、菲希爾測厚儀統計計算：數據組帶時間和時期功能，統計功能包含平均值、標準偏差、大值、小值等；還可輸入公差范圍，計算CP和Cpk值

警提示功能

11、菲希爾測厚儀windows7以上中文操作界面，WinFTM專業測試軟件，具備連接PC和打印機的USB借口

12、菲希爾測厚儀測量誤差：鍍層厚度≥0.5um時，頂層鍍層測量精度≤5%

13、x射線測厚儀采用*基本參數法，內置12純元素頻譜庫，可實現無標準片校準情況下測量

14  x射線測厚儀MQ值顯示，用于判定測量程式是否與樣品匹配，避免誤操作

15、x射線測厚儀標準片：配備12種基準純元素（Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr）。

16、具備高分辨率CCD攝像頭，放大倍數40-160倍。

17、儀器應具有環保部門出具的輻射豁免管理函

18、計算機控制系統：I5處理器，8G內存，500G硬盤，19寸液晶顯示器，彩色噴墨打印機。

19、工作環境條件：操作溫度范圍：10℃~40℃；相對濕度：20%～80%；