德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品簡介：

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。

它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時(shí)可同時(shí)測定24種元素。

正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。