QUINTSONIC 7 EPK超聲波測(cè)厚儀

QUINTSONIC 7 EPK超聲波測(cè)厚儀

QUINTSONIC 7 EPK超聲波測(cè)厚儀

EPK超聲波測(cè)厚儀QuintSonic 7是由德國ElektroPhysik公司制造的新發(fā)布的*超聲波測(cè)厚儀。EPK超聲波測(cè)厚儀QuintSonic 7測(cè)量涂料，漆和塑料涂料，適用于塑料，金屬，木材，玻璃或陶瓷基材。由于其創(chuàng)新的技術(shù)，QuintSonic 7可以在一個(gè)操作中測(cè)量多達(dá)五層。 EPK超聲波測(cè)厚儀QuintSonic 7是款確定GRP和CRP組件的層厚度的量規(guī)。該儀器結(jié)合了*的傳感器技術(shù)和創(chuàng)新軟件，為以前無法解決的應(yīng)用提供高精度測(cè)量系統(tǒng)。

此外，該單元還可用于通過涂層測(cè)量薄基板。附加功能包括測(cè)量低至10微米涂層厚度和內(nèi)置A-Scan圖形顯示選項(xiàng)的功能。該儀器zui多可存儲(chǔ)250,000個(gè)讀數(shù)和尺寸，單位為微米，毫米，密耳和英寸。 QuintSonic 7符合DIN EN ISO 2808：2007標(biāo)準(zhǔn)，ASTM D6132 - 08，SSPC-PA9。

EPK超聲波測(cè)厚儀性能特點(diǎn)：

僅在一個(gè)操作中測(cè)量多層系統(tǒng)的總厚度以及單層厚度。 一次操作中zui多可以測(cè)量5層。

高精度和重復(fù)性。

測(cè)量值的存儲(chǔ)和記錄。

內(nèi)存容量：zui多300批次約25,000次讀數(shù)。

涂層厚度測(cè)量從10μm。

能夠確定的層厚度或GRP和CRP組分。

A-scan圖像功能，無需連接到PC。

可以通過涂層測(cè)量薄的基材。

用于實(shí)驗(yàn)室，生產(chǎn)和現(xiàn)場使用的穩(wěn)健的測(cè)量計(jì)。

當(dāng)超出限制時(shí)，限制光學(xué)和聲學(xué)警告設(shè)置。