Couloscope CMS2

Couloscope CMS2

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德國Fischer菲希爾電解法測厚儀是利用涂層和基體對應(yīng)的電解液，溶解在一定電流下的硬度和時間來測量膜厚的測量方法(但采用電化學(xué)中的庫侖法測量膜厚)。菲希爾庫倫法測厚儀是利用法拉第原理設(shè)計的，其工藝類似于電鍍，只是電化學(xué)反應(yīng)方向相反，是電退鍍。

菲希爾電解法測厚儀COULOSCOPE CMS2和菲希爾CMS2 STEP用于測量ABS、塑料、黑色或有色金屬基材上多層鍍層的厚度，采用陽極溶解/反向電解工藝，菲希爾庫倫法測厚儀通過蝕刻效應(yīng)(破壞性試驗方法)。菲希爾測厚儀它是測量金屬或非金屬基材上幾乎所有金屬涂層(尤其是無損涂層)理想厚度的理想儀器。

如今，fischer測厚儀已成功應(yīng)用于汽車、汽車零部件、電鍍、粉末涂裝、電子、電氣、鍍鋅、研發(fā)等領(lǐng)域。。Helmut-Fischer成立于1953年，是為精密材料分析、材料測試、涂層厚度、顯微硬度、電導(dǎo)率和鐵氧體含量測量、陽極密封和孔隙率測試提供儀器和解決方案的創(chuàng)新。基于豐富的經(jīng)驗，F(xiàn)ischier可以為您的測量應(yīng)用提供理想的解決方案。COULOSCOPE CMS2fischer測厚儀可以測量金屬或非金屬基底上幾乎所有金屬涂層的厚度。

菲希爾庫倫法測厚儀用于測量涂層厚度

COULOSCOPE CMS2和COULOSCOPE CMS2 STEP菲希爾測厚儀根據(jù)庫侖分析法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。

庫侖法是一種簡單易用的電化學(xué)分析方法，可以確定金屬涂層的厚度。這種方法主要用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)測印刷電路板中殘留純錫的厚度。

用庫侖儀COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷電路板上剩余純錫的厚度。

菲希爾庫倫法測厚儀可以測量幾乎所有基材上的金屬涂層厚度，包括多層涂層結(jié)構(gòu)；其工作原理基于陽極溶解庫侖分析法(ISO 2177標(biāo)準(zhǔn))。簡單的操作和菜單指令使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢測的理想解決方案。該設(shè)備配備了近100種針對不同涂層結(jié)構(gòu)(例如，鐵上鍍鋅和黃銅上鍍鎳)和各種電解速度(例如，1、2、5和10微米/分鐘)的保留應(yīng)用。這些應(yīng)用適用于多涂層系統(tǒng)。

COULOSCOPE CMS2 STEP的特點是階躍測試功能(同時測量厚度和電位差)。用于多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控，用于涂層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化步驟測試(根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022)。涂層的厚度通過庫侖法獲得，而電勢差通過涂有AgCl的銀電極獲得。