Fischer代理鍍層測厚儀XDL220

Fischer代理鍍層測厚儀XDL220

Fischer代理鍍層測厚儀XDL220

fischer代理菲希爾測厚儀X射線鍍層測厚儀簡介：

fischer代理德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。fischer代理它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，fischer代理同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。fischer xdl220德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

fischer xdl220測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

fischer xdl220測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

fischer xdl220測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

菲希爾測厚儀測量印刷線路板

菲希爾測厚儀分析電鍍?nèi)芤?/p>

菲希爾x射線測厚儀Fischerscope XAN500

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500fischer代理是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。

fischer xdl220采用*的硅漂移探測器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

菲希爾測厚儀使用XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進行便捷快速的測量。設(shè)計結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設(shè)備，以便檢測小型樣品。