菲希爾X熒光射線測厚儀

菲希爾X熒光射線測厚儀

菲希爾X熒光射線測厚儀

FISCHERSCOPE XUL設(shè)計為X-射線管和探測器系統(tǒng)位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優(yōu)點，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數(shù)情況下，被測試工件的表面可直接放置于測量臺上，這就避免了在從上往下測量系統(tǒng)中需要的測量距離調(diào)整。測試點會自動地調(diào)整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。

駿展儀器引用*的技術(shù)和管理經(jīng)驗,建立完善的管理體系,產(chǎn)品質(zhì)量和售前和售后進行嚴格控制,不斷提高公司的產(chǎn)品質(zhì)量和服務(wù),贏得了客戶的信任,使供應(yīng)的產(chǎn)品在篤摯主要城市的國內(nèi)和國際市場的快速增長,并獲得好評。

菲希爾代理x射線測厚儀

XUL儀器介紹: 

適用于Windows2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能 

頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應(yīng)用 

能通過“應(yīng)用工具箱"(由一個帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準標準塊組成)使應(yīng)用的校準簡單化 

畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離） 

圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中 

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司公司擁有雄厚的資源優(yōu)勢，擁有儀器設(shè)備“選型、采購、測量、校準、操作人員培訓(xùn)、售后服務(wù)"的服務(wù)。公司銷售的儀器儀表設(shè)備，廣泛應(yīng)用于工廠、企業(yè)、測量機構(gòu)和科研機構(gòu)。

菲希爾鐵素體測量儀Feritscope  FMP30主要特性：

※無損測量奧氏體鋼和雙相鋼內(nèi)的鐵素體含量

※只需一次校準就能滿足常用的測量范圍0.1-90FN。

※測量范圍：0.1-110 FN 或 0.1-80% Fe

※校準用的標準片可追溯到TWI二級標準片，也提供客戶定制的標準片

※測量誤差依據(jù)ANSI/AWS A4.2M/A4.2：1997標準

※儀器操作簡便、大顯示器，高對比度，240x160像素

※可調(diào)整的儀器自動關(guān)機和連續(xù)操作時間

※自動探頭識別

※測量完成后有聲音提示信號

※按鍵可鎖定/限制操作模式

※開機后即可測量

※USB接口連接PC或打印機

※機械滑蓋保護測量時用不到的按

※按鍵可鎖定/限制操作模式

※通過儀器按鈕或PC可實現(xiàn)外部觸發(fā)測量

Dualscope MPO涂層測厚儀符合國家標準GB/T4956和GB/T4957，可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗及質(zhì)量監(jiān)督檢驗。Dualscope MPO菲希爾涂層測厚儀采用雙功能內(nèi)置式探頭，無需更換探頭，可自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應(yīng)的測量方式進行精確測量。 

符合人體工程學(xué)設(shè)計的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在任何測量位置讀取測量數(shù)據(jù)。 

采用手機菜單方式快速選擇功能。 

儀器可設(shè)定上下限，測量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時，儀器會發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。 

儀器通常不必校正便可進行測量。