Phascope PMP10 Duplex渦流相敏測厚儀

       DELTASCOPEFMP10規(guī)格

　　Phascope PMP10 Duplex渦流相敏測厚儀配備有一個*的和便于讀取的60x30mm（2.4"x1.2"））液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數(shù)，測量次數(shù)，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示用于測量非磁性涂鍍層例如：鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。

　　PhascopePMP10Duplex渦流相敏測厚儀的應(yīng)用：菲希爾MP10磁感應(yīng)涂層測厚儀采用根據(jù)DINENISO2178,ASTMB499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法，根據(jù)電磁感應(yīng)（DINENISO2178）原理，采用微處理器控制的便攜式涂鍍層測量儀。

     Phascope PMP10 Duplex渦流相敏測厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻電鍍工業(yè)中電鍍液的分析黃金、珠寶和鐘表工業(yè)，德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEXDL應(yīng)用實例：XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得大的信號強(qiáng)度。

　　FISCHERSCOPEX-RAYXDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。

　　XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造的激勵條件。