X射線熒光測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPEX-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。

　　XAN500采用*的硅漂移探測器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

       X射線熒光測厚儀使用XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進行便捷快速的測量。設計結(jié)構的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設備，以便檢測小型樣品。

　　菲希爾公司FISCHER品牌的x-ray鍍層厚度檢測及材料分析儀是業(yè)內(nèi)的產(chǎn)品，在全球有著廣泛的客戶和良好的聲譽。FISCHERSCOPEX-RAYXDLM237X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀采用手動或自動方式，測量和分析微小結(jié)構的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPE®X-RAYXDAL237SDDX射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀，配備可編程運行XY工作臺及Z軸升降系統(tǒng)，全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。可按要求，提供額外的XAN500型產(chǎn)品更改和XAN500儀器技術咨詢