X-RAY XUV菲希爾x熒光射線測厚儀

 X-RAY XUV菲希爾x熒光射線測厚儀

FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術，能提供性能和靈活性。由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統中。

XAN500
一臺儀器，三種作業模式：XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設備，它還可以轉變為臺式儀器或者整合到生產線中。
MMS PC2
采用不同測量技術的模塊化系統：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。
CMS2
臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。
GOLDSCOPE
GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設計的
XAN
用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。
XUL / XULM
基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適用于電鍍行業。
XDL / XDLM / XDAL
功能強大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。
XDV-SDD
FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足最高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計
XDV-µ
FISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業中最微小結構的產品
XUV
X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。
XDL / XDLM / XDAL
憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。

 X-RAY XUV菲希爾x熒光射線測厚儀

從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發展出創新型的測量技術。如今，菲希爾的測量技術已在世界各地得到應用，滿足客戶對儀器準確度、精度和可靠性的要求。目前，有超過10000臺X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強大，可靠和耐用的X射線熒光測量設備的代名詞。