菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置
XDAL237 配備高精度比例計數管探測器,可在短時間內實現高計數率,確保重復測量精度。其微聚焦 X 射線管(鎢靶,最高 50kV/50W)結合 4 個可切換準直器和 3 種基本濾片,可靈活適應不同材料的檢測需求,最小測量點直徑達 0.1 毫米。設備還集成了帶變焦功能的彩色視頻攝像頭和激光指示器,支持測量點的快速定位與精確定位。
自動化設計
該儀器采用可編程的 XY 軸電動工作臺及 Z 軸升降系統,可實現批量樣品的自動化掃描和測量,特別適合生產線中的質量控制。例如,在電子元器件檢測中,工作臺能自動移動至預設位置,配合電調 Z 軸實現微米級精度的鍍層厚度分析。
測量范圍與精度
適用鍍層厚度范圍為 0.01-50μm,可檢測從鋁(Al)到鈾(U)的多種元素,滿足從超薄鍍層(如半導體芯片)到厚鍍層(如汽車零部件)的全場景需求。在珠寶行業黃金飾品檢測中,其精度可達到 ±0.01μm,滿足嚴苛的行業標準。