菲希爾鍍層測厚儀XULM240簡介

FISCHERSCOPE X-RAY XUL和 XULM系列菲希爾熒光鍍層測厚儀是功能強大的多用途測量設備，能夠精準應對各類鍍層厚度檢測需求。無論是極薄至 50 nm 的金鍍層，還是高達 100 μm 的錫鍍層，通過優化配置的高壓濾片組合，都能實現高精度測量。其搭載的微聚焦管技術，可在短測量距離下實現小至 100 μm 的測量點，精準定位微小區域。同時，比例接收器支持高達數 kcps 的計數率，確保測量數據快速、準確。

在設計上，該系列儀器將 X 射線源與接收器置于測量室下方，大幅簡化了樣品定位流程，配合視頻窗口輔助，可快速完成樣品的精準定位。前方的大尺寸控制臺設計，讓操作更加便捷高效，尤其適用于日常生產中大量部件的快速檢測場景。盡管整體結構緊湊，但其配備的大容量測量室，足以容納大型物品進行檢測。此外，殼體 C 型槽開槽設計，專門針對印刷線路板等大尺寸平整樣品，即使樣品無法置入測量室，也能直接放置于平整支撐臺或高精度手動 XY 工作臺上，實現靈活檢測，充分滿足多樣化的工業測量需求。